Portal Rasmi Agensi Nuklear Malaysia

Mikroskop Daya Atom (AFM) XE-70

Mikroskop daya atom (AFM) (Foto 1) ialah antara alat penting untuk pengimejan dan pengukuran pada skala bersaiz nano. AFM berbeza dengan mikroskop-mikroskop yang lain. Ia tidak menghasilkan imej melalui penumpuan cahaya (mikroskop optikal) atau elektron (mikroskop elektron) ke atas sesuatu permukaan. Ia secara fizikal seolah-olah menyentuh permukaan sampel dengan prob yang tajam, menghasilkan peta ketinggian permukaan sampel. Ini berbeza daripada mikroskop pengimejan yang mana ia mengukur projeksi 2D permukaan sampel. Projeksi 2D ini tidak mempunyai maklumat ketinggian. Oleh itu, sampel perlu diputarkan untuk mendapatkan ketinggian permukaan sampel. Data daripada AFM mesti diolah untuk menghasilkan imej (Foto 2). Proses pengolahan ini mudah dan amat fleksibel. Data ketinggian yang diperolehakan diolah menggunakan sistem perisian yang ringkas untuk menghasilkan imej sampel. Data ketinggian ini juga memudahkan untuk pengukuran tinggi, panjang, lebar atau isipadu daripada imej yang dihasilkan.

Foto 1: Mikroskop daya atom (AFM)

Foto 2: Data imej sampel yang dijana oleh mikroskop daya atom (AFM) sedang diolah menggunakan perisian

 


Untuk maklumat lanjut, sila layari SISPA.